Große und kleine SD-Karte mit goldenem Punkt und DIP48-Doppelkopf-Nadelprüfsitz

Leistungsparameter:
1. Arbeitsfrequenz: Niederfrequenz
2. Anwendungsbereich: IC mit integrierter Schaltung
3. Schnittstellentyp: Sonde
4. Sondenmaterial: Berylliumkupfer (Standard)
5. Isoliermaterial: FR-4, PPS usw.

Eigenschaften:
1. Es nimmt eine manuelle Flip-Struktur an, die einfach zu bedienen ist.
2. Das Produkt hat einen hohen Grad an Universalität. Solange der Limit-Frame geändert wird, können alle SD-Karten mit denselben Pins und unterschiedlichen Abmessungen getestet werden.
3. Die Druckplatte der oberen Abdeckung nimmt eine spezielle Struktur an, und der Druck nach unten ist stabil, um sicherzustellen, dass der Druck der SD-Karte gleichmäßig ist und sich nicht verschiebt.
4. Der hochpräzise Positionierungsschlitz gewährleistet eine genaue Positionierung der SD-Karte und eine hohe Produktionseffizienz.
5. Ausgestattet mit verschiedenen Haupterkennungsplatinen kann die Austauschbarkeit von Chipsbank-, UT165-, Anguo-, SMI- und NETWORK-Lösungen realisiert werden
6. Die Sonde kann ausgetauscht werden, die Wartung ist bequem und die Kosten sind gering.